AR膜缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào)：EX2001S
更新時(shí)間：2023-09-27

簡(jiǎn)要描述：減反射增透膜（ Anti-Refletance），簡(jiǎn)稱AR膜， 是在玻璃基片上鍍多層復(fù)合光學(xué)膜，采用低折射率（L）和高折射率（H）材料交替形成膜堆，通過(guò)精心的膜層設(shè)計(jì)和膜厚嚴(yán)格控制，利用干涉效應(yīng)減少基片表面反射。

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產(chǎn)品詳情

AR膜缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是用于玻璃基板防反射涂層的缺陷檢查設(shè)備。用倒置顯微鏡和線型攝像機(jī)對(duì)透明基板的表面和背面進(jìn)行高速掃描和檢測(cè)，并顯示檢測(cè)結(jié)果。

AR膜缺陷檢測(cè)系統(tǒng)特點(diǎn)和功能
1.目標(biāo)基板大400mm，透明基板自動(dòng)對(duì)焦檢測(cè)。
2.檢測(cè)缺陷：AR膠片基板上的白色異物（缺失）或黑色異物，檢測(cè)分辨率2.8μm（1.4μm）。
3.遠(yuǎn)程控制復(fù)核檢查，攝像機(jī)/照明/物鏡變化/舞臺(tái)和焦點(diǎn)。
緊湊的設(shè)計(jì)，采用倒置光學(xué)系統(tǒng)，高性能的線相機(jī)和復(fù)查相機(jī)檢測(cè)。
檢驗(yàn)艙門升起，將板子放在支架上進(jìn)行高速清潔檢驗(yàn)。配有水平FFU

AR膜缺陷檢測(cè)系統(tǒng)性能

正常模式：5倍，分辨率2.8μm，檢測(cè)面/寬度3mm×80mm/秒+α。
高性能模式：10倍，分辨率1.4μm：檢測(cè)面/寬度1.5mm×40mm/秒+α。
另有標(biāo)記功能

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